CIQTEK Showcases Electron Microscopy Solutions at The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, USA
CIQTEK Showcases Electron Microscopy Solutions at The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, USA
March 18, 2026
CIQTEK participated in the TMS 2026 Annual Meeting & Exhibition, held from March 15–19, 2026 in San Diego, California, USA. Our U.S. team and local distribution partner welcomed visitors at Booth #307, where we presented our latest electron microscopy solutions for materials science applications.
About TMS 2026
Organized by The Minerals, Metals & Materials Society (TMS), this annual meeting is a key event for the global materials science community. It brings together researchers, engineers, and industry professionals working in areas such as metallurgy, advanced materials, additive manufacturing, and characterization technologies.
The event provides a strong platform for exchanging ideas, discovering new technologies, and discussing real-world challenges in materials research and production.
Tailored SEM Solutions for Materials Research
CIQTEK showcased electron microscopy solutions designed to support a wide range of materials science applications.
Our systems are well-suited for:
Microstructure analysis of metals and alloys
Failure analysis and defect investigation
Powder and particle characterization
Additive manufacturing and new materials research
Many visitors were particularly interested in how CIQTEK systems deliver stable imaging performance while remaining easy to operate. For labs balancing performance, usability, and budget, this combination is especially important.
We also had in-depth discussions with users about their daily challenges, such as improving imaging efficiency, simplifying workflows, and handling complex samples. These conversations help us better align our solutions with real application needs.
Strong Local Presence and Support in the U.S.
Participation in TMS 2026 is part of CIQTEK's broader strategy to expand its electron microscopy business in the U.S. market.
We offer:
A U.S.-based demo center for hands-on evaluation
U.S. Local technical and application support
Faster response for service and training
We continue to invest in local teams, infrastructure, and partnerships to support researchers and industry users better. By combining competitive technology with localized service, CIQTEK aims to make high-quality electron microscopy more accessible across North America.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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