CIQTEK presenta sus soluciones de microscopía electrónica en la conferencia The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, EE. UU.
CIQTEK presenta sus soluciones de microscopía electrónica en la conferencia The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, EE. UU.
March 18, 2026
CIQTEK
participó en el
Reunión y Exposición Anual de TMS 2026
, que se celebró del 15 al 19 de marzo de 2026 en San Diego, California, EE. UU. Nuestro equipo de EE. UU. y nuestro socio de distribución local dieron la bienvenida a los visitantes en
Stand n.° 307
donde presentamos nuestro último
soluciones de microscopía electrónica
para aplicaciones en ciencia de materiales.
Acerca de TMS 2026
Organizado por
La Sociedad de Minerales, Metales y Materiales (TMS)
Esta reunión anual es un evento clave para la comunidad global de la ciencia de los materiales. Reúne a investigadores, ingenieros y profesionales de la industria que trabajan en áreas como la metalurgia, los materiales avanzados, la fabricación aditiva y las tecnologías de caracterización.
El evento ofrece una sólida plataforma para el intercambio de ideas, el descubrimiento de nuevas tecnologías y el debate sobre los retos del mundo real en la investigación y producción de materiales.
Soluciones SEM personalizadas para la investigación de materiales
CIQTEK presentó soluciones de microscopía electrónica diseñadas para dar soporte a una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales.
Nuestros sistemas son idóneos para:
Análisis de la microestructura de metales y aleaciones
Análisis de fallas e investigación de defectos
Caracterización de polvos y partículas
Investigación sobre fabricación aditiva y nuevos materiales
Muchos visitantes mostraron especial interés en cómo los sistemas CIQTEK ofrecen un rendimiento de imagen estable a la vez que son fáciles de usar. Para los laboratorios que buscan equilibrar rendimiento, facilidad de uso y presupuesto, esta combinación es especialmente importante.
También mantuvimos conversaciones en profundidad con los usuarios sobre sus desafíos cotidianos, como mejorar la eficiencia de la obtención de imágenes, simplificar los flujos de trabajo y gestionar muestras complejas. Estas conversaciones nos ayudan a alinear mejor nuestras soluciones con las necesidades reales de las aplicaciones.
Fuerte presencia y apoyo local en EE. UU.
La participación en TMS 2026 forma parte de la estrategia más amplia de CIQTEK para expandir su negocio de microscopía electrónica en el mercado estadounidense.
Ofrecemos:
A
Centro de demostración con sede en EE. UU.
para evaluación práctica
Soporte técnico y de aplicaciones local en EE. UU.
Respuesta más rápida para el servicio y la capacitación.
Continuamos invirtiendo en equipos locales, infraestructura y alianzas para brindar un mejor apoyo a investigadores y usuarios de la industria. Al combinar tecnología competitiva con un servicio localizado, CIQTEK busca hacer que la microscopía electrónica de alta calidad sea más accesible en toda Norteamérica.
Georgia + Microscopio electrónico de barrido con emisión de campo de haz de iones enfocado El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, además de la característica de "bajo voltaje y alta resolución" que garantiza sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una Ga + Fuente de iones metálicos líquidos con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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