CIQTEK presentará su avanzada tecnología SEM y su soporte local en EE. UU. en SEMS 2026.

Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.

Estable, versátil, flexible y eficiente El CIQTEK SEM4000X Es estable, versátil, flexible y eficiente. microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) Alcanza una resolución de 1,8 nm a 1,0 kV y aborda fácilmente los desafíos de la obtención de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Puede ampliarse con un modo de desaceleración de ultrahaz para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje. El microscopio utiliza tecnología multidetector, con un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE, a la vez que proporciona un rendimiento de alta resolución. El detector de electrones (LD) montado en la cámara incorpora un centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, lo que ofrece mayor sensibilidad y eficiencia, lo que resulta en imágenes estereoscópicas de excelente calidad. La interfaz gráfica de usuario es intuitiva e incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático y alineación automática, lo que permite capturar rápidamente imágenes de ultraalta resolución.

Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.