CIQTEK fortalece sus alianzas en Analytica África 2025
CIQTEK fortalece sus alianzas en Analytica África 2025
July 14, 2025
Del 8 al 10 de julio,
CIQTEK
se unió a la comunidad científica y analítica en
Laboratorio Analytica África 2025
en Johannesburgo,
Sudáfrica
Celebrado en el Centro de Convenciones Gallagher, este evento de primer nivel reunió a líderes tecnológicos, investigadores y distribuidores de todo el continente.
En el stand M04, CIQTEK exhibió una potente línea de instrumentos científicos, incluido nuestro
Microscopios electrónicos
,
RMN
&
Espectrómetros EPR
, y
Analizadores de área de superficie BET
A lo largo de la exposición, tuvimos el placer de conectar con una amplia gama de profesionales, muchos de los cuales expresaron un gran interés en desarrollar capacidades analíticas mediante alianzas colaborativas.
El entusiasmo y la profesionalidad de los visitantes fueron verdaderamente inspiradores. Desde debates técnicos detallados hasta posibles negociaciones de distribución, Analytica Lab Africa 2025 brindó una valiosa plataforma para intercambiar ideas y explorar las necesidades del mercado local.
Tras la exposición, el equipo del CIQTEK inició una visita específica por Sudáfrica, donde se reunió con laboratorios, instituciones y socios potenciales locales. Estas interacciones presenciales nos permiten comprender mejor las aplicaciones prácticas y seguir generando confianza e impulso en la región.
Agradecemos sinceramente a todos los que visitaron nuestro stand y compartieron sus ideas. Estamos entusiasmados con lo que viene y esperamos crecer juntos en la comunidad científica sudafricana.
¡Permanezca atento para más actualizaciones desde la carretera!
Ultraalta resolución Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno El CIQTEK SEM3300 Microscopio electrónico de barrido (SEM) Incorpora tecnologías como la óptica electrónica de "supertúnel", detectores de electrones en la lente y lentes de objetivo compuestas electrostáticas y electromagnéticas. Al aplicar estas tecnologías al microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución de este tipo de microscopio electrónico de barrido (MEB), lo que permite realizar análisis de bajo voltaje que antes solo se podían realizar con MEB de emisión de campo.
Alta velocidad Emisión de campo totalmente automatizada Microscopio electrónico de barrido Puesto de trabajo CIQTEK HEM6000 tecnologías de instalaciones como el cañón de electrones de corriente de haz grande de alto brillo, sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad, desaceleración de etapa de muestra de alto voltaje, eje óptico dinámico y lente objetivo combinado electromagnético y electrostático de inmersión para lograr una adquisición de imágenes de alta velocidad al tiempo que se garantiza una resolución a escala nanométrica. El proceso de operación automatizada está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas extensas más eficiente e inteligente. Su velocidad de captura de imágenes es cinco veces mayor que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FESEM) convencional.
Serie CIQTEK Climber: analizadores de área de superficie específica y tamaño de poro están diseñados para realizar pruebas rápidas, precisas y estables, y admiten el análisis de hasta 6 muestras al mismo tiempo, lo que brinda una experiencia de prueba completamente nueva. ⪠Pruebe el área de superficie específica y la distribución del tamaño de los poros de sólidos, lodos y polvos ⪠0,0005 m2/g y análisis de área de superficie específica ⪠Análisis del tamaño de poro de 0,35 ~ 500 nm ⪠La prueba BET de cinco puntos se puede completar en 20 minutos
El CIQTEK CAN600 es un sensor de estado líquido inteligente de próxima generación. espectrómetro de resonancia magnética nuclear (RMN) , equipado con un ultra blindaje, ultrahomogéneo imán superconductor de 600 MHz , una arquitectura de sistema distribuido avanzada con una consola modular integrada y sondas de ajuste totalmente automatizadas y de alta sensibilidad. El CAN600 cuenta con canales de RF transceptores altamente integrados, lo que permite experimentos con múltiples receptores. Su innovador diseño facilita la sintonización y el ajuste rápidos, lo que reduce significativamente el tiempo necesario para la configuración del experimento. Accesorios como la pantalla táctil de control inteligente amplían la gestión del sistema, permitiendo a los usuarios supervisar el estado del instrumento y controlar el acceso a las muestras directamente a través del tacto, mejorando la flexibilidad de los experimentos de RMN. Al combinar hardware de alto rendimiento con software inteligente, CAN600 ofrece una plataforma de RMN más confiable y fácil de usar para los investigadores.
Espectrómetro de sobremesa de banda X de resonancia paramagnética electrónica o resonancia de espín electrónico (EPR, ESR) El CIQTEK EPR200M Es un nuevo diseño espectrómetro EPR de sobremesa especializada en el análisis cualitativo y cuantitativo de radicales libres, iones de metales de transición, dopaje de materiales y defectos Es una excelente herramienta de investigación para el monitoreo en tiempo real de reacciones químicas, la evaluación en profundidad de las propiedades de los materiales y la exploración de los mecanismos de degradación de contaminantes en la ciencia ambiental. El EPR200M presenta un diseño compacto e integra a la perfección la fuente de microondas, el campo magnético, la sonda y el controlador principal, garantizando sensibilidad y estabilidad, a la vez que es compatible con diversas necesidades experimentales. Su interfaz intuitiva permite que incluso los usuarios principiantes puedan comenzar a usarlo rápidamente, lo que hace que el instrumento EPR sea realmente fácil de usar. ★ Envíe un correo electrónico a nuestros expertos para obtener soluciones personalizadas, cotizaciones o folletos detallados: info@ciqtek.com
Microscopia electrónica de barrido (SEM) de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelente capacidad de expansión.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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