Fácil pero no simple: microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno CIQTEK SEM2000
Fácil pero no simple: microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno CIQTEK SEM2000
January 10, 2023
La manufactura es el pilar de la economía real y su importancia se está enfatizando a nivel mundial. El microscopio electrónico de barrido (SEM), como poderoso instrumento analítico, tendrá un papel importante en la mejora de la innovación y la calidad de los productos de fabricación.
Sin embargo, en la práctica, a menudo existe la preocupación de que el SEM se dañe fácilmente, sea complicado de usar y tarde mucho en comenzar, lo que genera altos costos ocultos.
El equipo de I+D de CIQTEK SEM se ocupará de este problema, con el objetivo de que " todos puedan utilizarlo " para crear un filamento de tungsteno SEM2000 " fácil pero no simple ".
Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno CIQTEK SEM2000
Fácil pero no simple
La interfaz de operación del SEM2000 es simple , fácil de comenzar, duradera, con una baja tasa de fallas e incluso los principiantes pueden usarla fácilmente.
El alto grado de automatización , la imagen clave, el enfoque automático, la dispersión automática y la función de contraste automático del SEM2000 simplifican enormemente los pasos de depuración de parámetros.
SEM2000 tiene un proceso anticolisión completo , que puede evitar por completo que la muestra toque la zapata polar del objetivo, el detector electrónico secundario y otras partes.
A continuación se muestran fotografías tomadas por un principiante usando SEM2000 después de un breve período de capacitación.
Imagen clara, buen contraste y gran profundidad de campo.
Si desea reducir el costo de uso y aumentar la eficiencia de operación. Si nunca antes has usado un microscopio electrónico y quieres probar el SEM por primera vez. Si quieres que la herramienta sea más sencilla. ¡Entonces SEM2000 será tu mejor opción!
CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.
CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con capacidad de análisis e imágenes de alta resolución, respaldado por abundantes funciones, se beneficia del diseño avanzado de columna óptica electrónica, con tecnología de túnel de haz de electrones de alta presión (SuperTunnel), baja aberración y sin inmersión. Lente objetivo, logra imágenes de alta resolución de bajo voltaje, también se puede analizar la muestra magnética. Con navegación óptica, funcionalidades automatizadas, una interfaz de usuario de interacción persona-computadora cuidadosamente diseñada y un proceso de operación y uso optimizado, sin importar si es un experto o no, puede comenzar y completar rápidamente el trabajo de análisis e imágenes de alta resolución.
Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras.
Alta resolución con baja excitación El CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky (FE-SEM) especializado en alta resolución incluso con bajo voltaje de excitación. El empleo de una avanzada tecnología de óptica electrónica "Super-Tunnel" facilita una trayectoria del haz sin cruces junto con un diseño de lente compuesto electrostático-electromagnético. Estos avances reducen el efecto de carga espacial, minimizan las aberraciones de las lentes, mejoran la resolución de imágenes a bajo voltaje y logran una resolución de 1,2 nm a 1 kV, lo que permite la observación directa de muestras no conductoras o semiconductoras, reduciendo efectivamente la carga de la muestra. daño por irradiación.
Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para imágenes a escala cruzada de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 incorpora tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz grande y alto brillo, el sistema de desviación del haz de electrones de alta velocidad, la desaceleración de la etapa de muestra de alto voltaje, el eje óptico dinámico y el objetivo combinado de inmersión electromagnética y electrostática. para lograr la adquisición de imágenes de alta velocidad y al mismo tiempo garantizar una resolución a nanoescala. El proceso de operación automatizado está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas grandes más eficiente e inteligente. La velocidad de obtención de imágenes puede alcanzar más de 5 veces más que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo convencional (FESEM).
Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica "Super-Tunnel", detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.
Microscopio SEM de filamento de tungsteno universal y de alto rendimiento El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 es un excelente microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno de uso general con capacidades generales excepcionales. Su exclusiva estructura de cañón de electrones de ánodo dual garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen con voltajes de excitación bajos. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes gastos.
Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (TEM) de 120 kV 1. Espacios de trabajo divididos: Los usuarios operan TEM en una habitación dividida con comodidad, lo que reduce la interferencia ambiental con TEM. 2. Alta eficiencia operativa: El software designado integra procesos altamente automatizados, lo que permite una interacción TEM eficiente con monitoreo en tiempo real. 3. Experiencia operativa mejorada: Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo con un sistema altamente automatizado. 4. Alta capacidad de expansión: Hay suficientes interfaces reservadas para que los usuarios actualicen a una configuración superior, que cumpla con diversos requisitos de aplicaciones.
La microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM) desafía los límites El CIQTEK SEM5000X es un FESEM de resolución ultraalta con un diseño de columna óptica electrónica optimizado, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y logra una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. . Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y fabricación de chips CI semiconductores de nodos de alta tecnología.
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