Synergie4 presenta actualmente los productos de microscopio electrónico de CIQTEK en la E-MRS 2025, Francia.
Synergie4 presenta actualmente los productos de microscopio electrónico de CIQTEK en la E-MRS 2025, Francia.
May 28, 2025
CIQTEK
El agente francés,
Sinergia4
, actualmente está exhibiendo CIQTEK
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Productos en la Reunión y Exposición E-MRS 2025. El evento se celebrará en Estrasburgo, Francia, del 26 al 30 de mayo, con el stand 27.
La E-MRS cuenta actualmente con más de 4000 miembros provenientes de la industria, el gobierno, el mundo académico y laboratorios de investigación. Sus reuniones sirven como plataforma para debatir sobre los últimos avances tecnológicos en materiales funcionales. A diferencia de muchas sociedades profesionales monodisciplinarias, la E-MRS promueve el intercambio de información entre científicos, ingenieros y gestores de investigación a nivel interdisciplinario.
Esta participación en la Reunión y Exposición E-MRS 2025 no solo muestra
CIQTEK
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productos, sino que también subraya su compromiso de mantenerse a la vanguardia de los avances en investigación y ciencia de los materiales.
La presencia de Synergie4 en este prestigioso evento resalta el espíritu de colaboración y la dedicación a la excelencia que tanto CIQTEK como sus socios encarnan en su búsqueda del avance de la ciencia y la tecnología de los materiales.
SEM de filamento de tungsteno de alto rendimiento y universal Microscopio El Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 Es un excelente microscopio electrónico de barrido (MEB) de filamento de tungsteno de uso general con excepcionales capacidades generales. Su exclusiva estructura de cañón electrónico de doble ánodo garantiza una alta resolución y mejora la relación señal-ruido de la imagen a bajos voltajes de excitación. Además, ofrece una amplia gama de accesorios opcionales, lo que convierte al SEM3200 en un instrumento analítico versátil con excelentes prestaciones.
Microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de ultraalta resolución (FESEM) El CIQTEK SEM5000X Es un FESEM de ultraalta resolución con un diseño optimizado de columna de óptica electrónica, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y alcanza una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y la fabricación de chips de circuitos integrados semiconductores de nodos de alta tecnología.
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado Ga+ El Microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) Cuenta con una columna de haz de iones enfocado para el nanoanálisis y la preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de "supertúnel", baja aberración y diseño de objetivo no magnético, y cuenta con la característica de "bajo voltaje y alta resolución" para garantizar sus capacidades analíticas a escala nanométrica. Las columnas de iones facilitan una fuente de iones metálicos líquidos Ga+ con haces de iones de alta estabilidad y calidad para garantizar la nanofabricación. La DB550 es una estación de trabajo integral de nanoanálisis y fabricación con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y una interfaz gráfica de usuario intuitiva.
¡No dude en contactarnos para obtener más detalles, solicitar una cotización o reservar una demostración en línea! Le responderemos tan pronto como podamos.
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