CIQTEK lanza una solución de pruebas mecánicas in situ: una plataforma abierta de I+D para la investigación en múltiples escenarios.

La investigación sobre el comportamiento microscópico de los materiales está entrando en una nueva era. Acoplamiento multiescenario y caracterización dinámica in situ . CIQTEK ha lanzado un innovador Solución de pruebas mecánicas in situ Diseñado con una apertura y compatibilidad excepcionales, permite una integración perfecta de toda la gama de CIQTEK. microscopios electrónicos con dispositivos de prueba in situ convencionales, proporcionando una plataforma flexible y eficiente para el análisis acoplado en diversos escenarios de investigación.

Rompiendo las limitaciones de los sistemas cerrados, la solución integra todos los elementos críticos necesarios para electromagnetismo in situ adaptabilidad, caracterizada por:

• Corriente de luz alta : >100 nA, ideal para análisis rápido de EDS/EBSD

• Gran espacio : 360 × 310 × 288 mm (largo × ancho × alto)

• Alta capacidad de carga :5 kg (hasta 10 kg con accesorios personalizados)

• CCD de múltiples vistas : garantizar la seguridad del sistema durante la operación in situ

• Múltiples interfaces :Compatible con accesorios de brida personalizados

• Preaceptación :Depuración completa de accesorios antes de la entrega, lo que garantiza una funcionalidad completa sin problemas de instalación en el sitio

La solución se puede configurar en todos los La gama completa de productos de microscopía electrónica de CIQTEK , incluido CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de doble haz DB550 Y más. Además, ofrece una compatibilidad perfecta con etapas de tracción, etapas de calentamiento, nanoindentadores y estaciones de trabajo electroquímicas de proveedores líderes a nivel mundial. Esta arquitectura abierta permite a los investigadores combinar con flexibilidad el equipo más adecuado, maximizando así el rendimiento experimental.

Solución de escenario in situ de CIQTEK Apoyó a los clientes en la publicación de un papel de alto impacto (DOI: 10.1126/ciencia.adq6807).

Solución mecánica in situ de CIQTEK También admite el acoplamiento multicampo (mecánico, térmico y electroquímico), lo que permite la observación nanométrica en tiempo real de materiales en entornos complejos. Al sincronizar imágenes de alta resolución con señales in situ, los investigadores pueden capturar con precisión fenómenos críticos como la propagación de grietas, las transiciones de fase y las reacciones interfaciales.

Con un rango de temperatura de -170 a 1200 °C, control avanzado de carga y sistemas de respuesta rápida, simula con precisión las condiciones de servicio de materiales en diversas industrias. En combinación con EBSD y EDS, proporciona conjuntos de datos completos para comprender el comportamiento de los materiales bajo estímulos acoplados.

Aplicado con éxito en materiales aeroespaciales, nuevos dispositivos energéticos y materiales biomédicos Esta solución demuestra la excepcional compatibilidad y escalabilidad de CIQTEK en plataformas de microscopía electrónica avanzada.