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En las ciencias de la vida, lograr un análisis estructural y dinámico 3D de gran precisión y a gran escala de muestras biológicas como células y tejidos se ha vuelto clave para superar los cuellos de botella en la investigación. CIQTEK ha introducido una ruta multitecnológica Microscopía electrónica volumétrica (VEM) solución, integrando SS-SEM, SBF-SEM y FIB-SEM Esto proporciona una plataforma integral, de alto rendimiento e inteligente para la reconstrucción biológica en 3D, ayudando a los investigadores a descubrir los misterios de la vida a nivel micro. Tres rutas técnicas avanzadas 01. Imágenes de alta velocidad SS-SEM Combinando el seccionamiento serial externo con el CIQTEK microscopio electrónico de barrido (SEM) HEM6000-Bio de alta velocidad Esta solución permite la obtención rápida de imágenes y la adquisición automatizada de muestras de gran volumen. La eficiencia de adquisición de datos es cinco veces mayor que la del microscopio electrónico de barrido (SEM) convencional, lo que permite un funcionamiento de alto rendimiento sin supervisión las 24 horas del día, los 7 días de la semana. 02. Seccionamiento in situ SBF-SEM Basado en el CIQTEK SEM5000X de ultra alta resolución Con un micrótomo integrado, este método permite ciclos de seccionamiento e imágenes in situ. Ofrece un funcionamiento sencillo, un alto grado de automatización y evita eficazmente la contaminación de la superficie. 03. FIB-SEM Análisis de alta precisión Aprovechando sistemas de doble haz de iones enfocados y electrones, esta ruta ofrece una resolución nanométrica en el eje Z para analizar estructuras finas como orgánulos y membranas. Permite la reconstrucción 3D in situ sin cortes físicos. Integración inteligente y amplias aplicaciones La solución CIQTEK VEM se integra profundamente algoritmos de IA y una plataforma de software multilingüe , que admite un flujo de trabajo completo, desde la adquisición de datos, la alineación y segmentación de imágenes hasta la visualización 3D. Compatible con el software de reconstrucción convencional, reduce significativamente la curva de aprendizaje. Los casos de aplicación abarcan la neurociencia, la biología celular y la microbiología patógena, ofreciendo una herramienta poderosa para avanzar en la investigación en ciencias de la vida.

La investigación sobre el comportamiento microscópico de los materiales está entrando en una nueva era. Acoplamiento multiescenario y caracterización dinámica in situ . CIQTEK ha lanzado un innovador Solución de pruebas mecánicas in situ Diseñado con una apertura y compatibilidad excepcionales, permite una integración perfecta de toda la gama de CIQTEK. microscopios electrónicos con dispositivos de prueba in situ convencionales, proporcionando una plataforma flexible y eficiente para el análisis acoplado en diversos escenarios de investigación. Rompiendo las limitaciones de los sistemas cerrados, la solución integra todos los elementos críticos necesarios para electromagnetismo in situ adaptabilidad, caracterizada por: Corriente de luz alta : >100 nA, ideal para análisis rápido de EDS/EBSD Gran espacio : 360 × 310 × 288 mm (largo × ancho × alto) Alta capacidad de carga :5 kg (hasta 10 kg con accesorios personalizados) CCD de múltiples vistas : garantizar la seguridad del sistema durante la operación in situ Múltiples interfaces :Compatible con accesorios de brida personalizados Preaceptación :Depuración completa de accesorios antes de la entrega, lo que garantiza una funcionalidad completa sin problemas de instalación en el sitio La solución se puede configurar en todos los La gama completa de productos de microscopía electrónica de CIQTEK , incluido CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemas de doble haz DB550 Y más. Además, ofrece una compatibilidad perfecta con etapas de tracción, etapas de calentamiento, nanoindentadores y estaciones de trabajo electroquímicas de proveedores líderes a nivel mundial. Esta arquitectura abierta permite a los investigadores combinar con flexibilidad el equipo más adecuado, maximizando así el rendimiento experimental. Solución de escenario in situ de CIQTEK Apoyó a los clientes en la publicación de un papel de alto impacto (DOI: 10.1126/ciencia.adq6807). Solución mecánica in situ de CIQTEK También admite el acoplamiento multicampo (mecánico, térmico y electroquímico), lo que permite la observación nanométrica en tiempo real de materiales en entornos complejos. Al sincronizar imágenes de alta resolución con señales in situ, los investigadores pueden capturar con precisión fenómenos críticos como la propagación de grietas, las transiciones de fase y las reacciones interfaciales. Con un rango de temperatura de -170 a 1200 °C, control avanzado de carga y sistemas de respuesta rápida, simula con precisión las condiciones de servicio de materiales en diversas industrias. En combinación con EBSD y EDS, proporciona conjuntos de datos completos para comprender el comportamiento de los materiales bajo estímulos acoplados. Aplicado con éxito en materiales aeroespaciales, nuevos dispositivos energéticos y materiales biomédicos Esta solución demuestra la excepcional compatibilidad y escalabilidad de CIQTEK en plataformas de microscopía electrónica avanzada.

Microscopía electrónica de transmisión de barrido en cuatro dimensiones (4D-STEM) Es una de las áreas más innovadoras en microscopía electrónica. Al realizar un escaneo bidimensional de la superficie de la muestra y registrar un patrón de difracción completo en cada punto de escaneo con un detector pixelado, 4D-STEM genera un conjunto de datos cuatridimensional que contiene información tanto del espacio real como del espacio recíproco. Esta técnica supera las limitaciones de la microscopía electrónica convencional, que normalmente solo capta una única señal de dispersión. En su lugar, captura y analiza todo el espectro de interacciones electrón-muestra. Con 4D-STEM, los investigadores pueden lograr múltiples funcionalidades avanzadas en un solo experimento, incluyendo imágenes virtuales, orientación de cristales y mapeo de deformaciones, análisis de la distribución de campos eléctricos y magnéticos (contraste de fase diferencial) e incluso reconstrucción con resolución atómica mediante apilamiento de difracción. Amplía considerablemente la dimensionalidad y la profundidad de la caracterización de materiales, ofreciendo una herramienta sin precedentes para la nanociencia y la investigación de materiales. En la Conferencia Nacional China sobre Microscopía Electrónica 2025 (del 26 al 30 de septiembre, Wuhan), CIQTEK lanza su Solución 4D-STEM , diseñado para romper los límites de la imagenología tradicional y ofrecer datos con una dimensionalidad y un poder analítico inigualables. Flujo de trabajo del sistema El Solución CIQTEK 4D-STEM características Alta resolución espacial, análisis multidimensional, operación de baja dosis para minimizar el daño del haz y un procesamiento de datos flexible , proporcionando a los investigadores métodos fiables y excepcionales para el análisis de materiales avanzados.

En los campos de investigación del rendimiento de materiales de alta temperatura y análisis del mecanismo de transición de fase, los métodos tradicionales de calentamiento externo a menudo no logran combinar el control preciso de la temperatura de la microrregión con la observación en tiempo real. CIQTEK , en colaboración con el Centro Micro-Nano de la Universidad de Ciencia y Tecnología de China, ha desarrollado un innovador Solución de chip de calentamiento in situ Al integrar chips de calentamiento MEMS con microscopios electrónicos de doble haz, esta solución permite un control preciso de la temperatura (desde temperatura ambiente hasta 1100 °C) y el análisis microdinámico de muestras, ofreciendo una nueva herramienta para estudiar el comportamiento de los materiales en entornos de alta temperatura. Esta solución utiliza el Microscopio electrónico de barrido (SEM) de doble haz CIQTEK y chips de calentamiento MEMS especializados Con una precisión de control de temperatura superior a 0,1 °C y una resolución de temperatura superior a 0,1 °C, el sistema también ofrece una excelente uniformidad de temperatura y baja radiación infrarroja, lo que garantiza un análisis estable a altas temperaturas. El sistema admite diversas técnicas de caracterización durante el calentamiento, como la observación de la morfología de microrregiones, el análisis de la orientación cristalina mediante EBSD y el análisis de la composición mediante EDS. Esto permite una comprensión completa de las transiciones de fase, la evolución de la tensión y la migración de la composición bajo efectos térmicos. El sistema funciona sin romper el vacío, cumpliendo todos los requisitos del proceso para la preparación y caracterización de muestras (EBSD de microrregión in situ). El diseño de flujo de trabajo integrado abarca todo el proceso, desde la preparación de muestras (procesamiento con haz de iones, extracción con nanomanipulador) hasta las pruebas de soldadura y calentamiento in situ. El sistema admite operaciones multiángulo, con un chip de calentamiento de 45° y una rejilla de cobre de 36°, lo que satisface las complejas necesidades experimentales. El sistema se ha aplicado con éxito en la investigación del rendimiento a alta temperatura de aleaciones, cerámicas y semiconductores, ayudando a los usuarios a obtener conocimientos más profundos sobre las respuestas de los materiales en entornos del mundo real. 26-30 de septiembre, Wuhan | Conferencia Nacional China de Microscopía Electrónica 2025 ¡Se exhibirán las ocho principales soluciones de microscopía electrónica de CIQTEK!

CIQTEK ha presentado su próxima generación oblea de 12 pulgadas microscopio electrónico de barrido (MEB) solución Diseñado para satisfacer las demandas de los procesos avanzados de fabricación de semiconductores. Al ofrecer inspección completa de obleas sin necesidad de rotación ni inclinación, esta innovadora solución garantiza un análisis no destructivo de alta resolución para respaldar el desarrollo de procesos críticos. Equipado con un escenario de viaje ultragrande (X/Y ≥ 300 mm), el sistema proporciona una cobertura completa de obleas de 30 cm, eliminando la necesidad de cortar o transferir muestras. Esto garantiza una observación fiel del tamaño y la posición originales. Con un Cañón de electrones de emisión de campo Schottky , logra una resolución de 1,0 nm a 15 kV y 1,5 nm a 1 kV, minimizando el daño del haz de electrones, lo que lo hace ideal para materiales y estructuras sensibles. Características principales incluir: Etapa de viaje ultra grande (X/Y > 300 mm) para inspección de oblea completa Imágenes de alta resolución : 1,0 nm a 15 kV y 1,5 nm a 1 kV Carga automatizada y sistema de navegación óptica Para un intercambio rápido de obleas y un posicionamiento preciso Software inteligente Para enfoque automático, corrección de astigmatismo y salida de imágenes multiformato El SEM de inspección de obleas de 12 pulgadas de CIQTEK es más que una simple herramienta de observación; es un instrumento fundamental que impulsa mayores rendimientos y nodos más pequeños en la fabricación de semiconductores. 26 al 30 de septiembre, Wuhan CIQTEK presentará ocho soluciones de microscopía electrónica de vanguardia al Conferencia Nacional China de Microscopía Electrónica 2025 !

En los campos de las ciencias de la vida, la biomedicina, la inspección de alimentos y la investigación de materia blanda, obtener imágenes de alta resolución de muestras hidratadas y sensibles al haz siempre ha sido un gran desafío. Los métodos convencionales de preparación de muestras, como la fijación química, la deshidratación y el secado, suelen provocar contracción, deformación o daños estructurales, lo que produce resultados que difieren del estado real de la muestra. Aprovechando su tecnología avanzada microscopía electrónica de barrido tecnología, CIQTEK ha introducido el Solución crio-SEM , que integra congelación a baja temperatura y transferencia de vacío. Esto permite la observación microscópica in situ, no destructiva y de alta fidelidad de muestras biológicas y sensibles, capturando fielmente los detalles microscópicos de la vida. Con la tecnología de congelación rápida con nitrógeno líquido, las muestras se pueden vitrificar instantáneamente a -210 °C, conservando al máximo su morfología y composición química originales. El sistema integrado de criopreparación combina la criofractura, el recubrimiento por sublimación y la transferencia a baja temperatura, evitando la complejidad y los posibles errores de la preparación manual convencional. Durante todo el proceso, las muestras se mantienen en condiciones de vacío criogénico y se transfieren a la criopreservación SEM, donde la obtención de imágenes de alta resolución a -180 °C suprime eficazmente el daño causado por el haz de electrones y mejora significativamente la calidad de la imagen. Hoja de boj criopreparada que muestra estructuras venosas intactas , mientras que la muestra sin tratar presenta una contracción severa. Yogur Moho La muestra de yogur criopreparado revela claramente redes de proteínas e hifas de hongos. Además, el sistema ofrece una fuerte compatibilidad y es adaptable en todos los ámbitos. La gama completa de microscopios electrónicos de CIQTEK y sistemas FIBSEM de doble haz , satisfaciendo diversas necesidades, desde la observación de rutina hasta el análisis avanzado. El Solución crio-SEM CIQTEK Es más que un simple conjunto de instrumentos. Representa un enfoque científico dedicado a restaurar fielmente el mundo microscópico. Permite a los investigadores superar las limitaciones técnicas, capturar detalles cruciales a microescala de la vida e impulsar la investigación fundamental y el desarrollo aplicado a nuevas cotas. 26 al 30 de septiembre, Wuhan Al Conferencia Académica China de Microscopía Electrónica 2025 CIQTEK presentará ocho soluciones EM de vanguardia . ¡Manténganse al tanto!

CIQTEK se complace en anunciar la exitosa instalación y capacitación del FIBSEM DB550 en nuestro Distribuidor coreano Centro de Microscopios Electrónicos del GSEM Este hito marca un paso importante en la expansión del acceso a la tecnología avanzada. Tecnología de microscopio electrónico de barrido de haz de iones enfocado (FIBSEM) en Corea del Sur. El DB550 combina imágenes de alta resolución con fresado preciso por haz de iones, lo que permite a los investigadores realizar reconstrucciones 3D, análisis transversales y modificación de materiales a nanoescala con eficiencia y precisión. Con estas capacidades, el sistema abre nuevas posibilidades para el análisis de semiconductores, la ciencia de los materiales y la investigación en ciencias de la vida. Tras la instalación, los ingenieros del CIQTEK impartieron capacitación práctica al equipo de GSEM, abarcando tanto los flujos de trabajo estándar como las aplicaciones avanzadas. Las sesiones interactivas permitieron a los usuarios adquirir experiencia práctica en el manejo del instrumento, desde la preparación de muestras hasta la obtención de imágenes de alta resolución y el análisis de datos. El entusiasmo y la participación del equipo de GSEM destacaron el gran potencial del DB550 para apoyar diversos proyectos de investigación en el centro. Esta colaboración refleja el compromiso de CIQTEK de colaborar estrechamente con socios de todo el mundo. Al equipar las instalaciones de GSEM con el DB550, no solo reforzamos nuestra presencia en el mercado coreano, sino que también facilitamos el acceso de los investigadores locales a herramientas de vanguardia para la innovación científica. Esperamos ver los emocionantes resultados que el Centro de Microscopía Electrónica de GSEM logrará con el DB550, y seguimos comprometidos a brindar soporte técnico y colaboración continuos.

En junio de 2025, CIQTEK Entregó con éxito dos avanzados microscopios electrónicos de barrido A su Distribuidor en EE. UU. JH Technologies, en Fremont, California. Los sistemas incluyen SEM3300 SEM de filamento de tungsteno y el SEM5000X SEM de emisión de campo de ultra alta resolución , lo que marca un paso significativo en la expansión estratégica de CIQTEK en el Mercado norteamericano de microscopía electrónica . Para apoyar la implementación, el equipo de ingeniería de CIQTEK brindó capacitación integral in situ al equipo de JH Technologies. Esta incluyó un detallado funcionamiento del sistema, demostraciones de aplicaciones y charlas técnicas adaptadas a casos prácticos reales. Esta colaboración mejoró la capacidad del equipo de JH para presentar y dar soporte a los instrumentos de CIQTEK. Tras la entrega, JH Technologies organizó una exitosa Casa Abierta En sus instalaciones de Fremont, se realizaron demostraciones en vivo de ambos sistemas. El evento atrajo una gran asistencia de profesionales académicos y de la industria, generando un gran interés y una respuesta positiva. Impulsados por el éxito, JH Technologies planea organizar próximamente más jornadas de puertas abiertas para promover aún más las soluciones avanzadas de imagen de CIQTEK. Tecnología de imágenes probada para aplicaciones exigentes El SEM3300 Combina una fuente de filamento de tungsteno tradicional con óptica moderna, ofreciendo un rendimiento de alta resolución a bajos voltajes de aceleración. Proporciona una solución potente y accesible para análisis e investigación rutinarios. El SEM5000X Ofrece imágenes de ultraalta resolución y funciones de automatización avanzadas, lo que lo hace ideal para la ciencia de materiales, la inspección de semiconductores y la investigación en nanotecnología. Ambos sistemas ofrecen interfaces de usuario intuitivas y opciones de configuración flexibles para satisfacer diversas necesidades de aplicación. Mirando hacia el futuro La colaboración de CIQTEK con JH Technologies refleja la visión compartida de ofrecer instrumentos SEM de primera clase, respaldados por una sólida experiencia local. Al combinar rendimiento, facilidad de uso y accesibilidad, CIQTEK está ganando rápidamente popularidad entre los usuarios estadounidenses en los sectores de la investigación, la fabricación y la educación. Aleks Zhang, subdirector del Grupo de Negocios Internacionales de CIQTEK, comentó: «Nos enorgullece ver nuestros instrumentos SEM en manos de un socio tan profesional y capaz. El mercado estadounidense está experimentando un fuerte impulso, y nos comprometemos a fortalecer nuestro apoyo a los clientes locales mediante una estrecha colaboración con distribuidores como JH Technologies».